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ZML-310顯微鏡圖像法粒度儀由顯微鏡、高分辨率數(shù)字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。廣泛適用于API原料藥，藥物晶型分析、生物醫(yī)藥、磨料、電池、非金屬礦、粉末冶金、石油能源、涂料、顏料、陶瓷、食品等領域的各種粉體顆粒的粒度大小、形狀特征觀察和測量。

ZML310顯微鏡法粒度粒形儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)，具有直觀、可視、準確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數(shù)全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。

ZML-310透皮乳膏粒度儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。

粒度粒形儀,納米激光粒度儀應用顆粒光散射原理,據(jù)光學理論推算顆粒粒度分布,主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析,其特點是粒度分析動態(tài)范圍寬,分辨能力高;操作簡便快捷,自動化程度高,可廣泛應用于質(zhì)量控制實驗室,質(zhì)量控制部門以及其他粒度分析領域.

粒度粒形儀,動態(tài)光納米粒度儀介紹： 當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高

美國DT電聲法zeta電位儀介紹：$nDT300粒度和Zeta電位分析儀器采用技術(shù)---多頻電聲學測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta 電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用DT-300直接進行測量。

KF100力學法表面張力儀具有超高分辨率，可達0.01mN/m。使用先進的伺服電機，保證樣品臺的升降平穩(wěn)。測量速度達50Hz，每20毫秒出一個數(shù)據(jù)。并內(nèi)置白光LED照明，易于尋找測量界面。

DSA-X標準型接觸角測量儀產(chǎn)品特點：●便捷的軟硬件操作，快速熟練掌握●高速高分辨工業(yè)相機●手動或軟件控制精密電動注射單元●多種計算擬合方法，自動基線識別功能●智能圖像識別，抗干擾●自動錄像回放功能，準確選取數(shù)據(jù)采集點●多種格式數(shù)據(jù)導出功能，一鍵導出實驗報告●多種測量功能及模塊可選●產(chǎn)線質(zhì)控、實驗室研發(fā)匹配